各實(shí)驗(yàn)室可提供檢測(cè)服務(wù)內(nèi)容分別包括：

• 熱分析實(shí)驗(yàn)室，能檢測(cè)電子電路基材的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度Tg、熱膨脹系數(shù)CTE、 熱分解溫度Td、熱分層時(shí)間等性能。
• 電性能實(shí)驗(yàn)室，可提供耐漏電起痕指數(shù)CTI測(cè)試、體積/表面電阻率分析測(cè)試、耐電弧測(cè)試、耐壓測(cè)試、介電擊穿測(cè)試、電氣強(qiáng)度測(cè)試、介電常數(shù)和介質(zhì)損耗等。
• 物理機(jī)械性能實(shí)驗(yàn)室，可提供拉伸試驗(yàn)、常溫/高溫三點(diǎn)彎曲試驗(yàn)、拉脫試驗(yàn)、常溫/高溫抗剝離測(cè)試、落錘沖擊、UL94燃燒性、壓力容器完善性試驗(yàn)、沖孔性、沖剪強(qiáng)度等。
• 環(huán)境實(shí)驗(yàn)室，能滿足各種要求的檢測(cè)前處理?xiàng)l件，可進(jìn)行耐CAF測(cè)試、HAST測(cè)試、高低溫沖擊測(cè)試等。
• 金相剖析實(shí)驗(yàn)室&電鏡分析室，提供切片、元器件形貌測(cè)量和領(lǐng)先于同行的三維形貌表征能力，提供納米級(jí)形貌觀察測(cè)量和元素組成分析。
• 導(dǎo)熱實(shí)驗(yàn)室，可進(jìn)行導(dǎo)熱材料熱傳導(dǎo)分析測(cè)試。
• 化學(xué)分析實(shí)驗(yàn)室，能提供鹵素含量分析測(cè)試、分子量分布、成分、含量、純度、化合物結(jié)構(gòu)表征、板材水份測(cè)試以及廢氣濃度測(cè)試等。
• 高頻高速實(shí)驗(yàn)室，可提供針對(duì)電子電路基材Dk/Df性能的測(cè)試，可提供針對(duì)線路板的信號(hào)完整性測(cè)試。
• 老化實(shí)驗(yàn)室，可提供針對(duì)電子電路基材的長(zhǎng)期熱老化性能的測(cè)試。